打造网上国际投资促进平台 致力于中国投资促进事业
您现在的位置:首页 > 开发区新闻 > 合肥 > 文字新闻
芯片开发之验证分析趋势应用研讨会在高新区成功举行
发布时间:2020-09-24  来源:合肥高新技术产业开发区  发布开发区:合肥高新技术产业开发区

  9月22日,芯片开发之验证分析趋势应用研讨会在合肥高新区成功举行。本次研讨会由蔚思博检测技术(合肥)有限公司主办,合肥高新区半导体投资促进中心、合肥市半导体行业协会、蔚华科技股份有限公司作为指导单位。

  会上,蔚思博检测副总经理陈伟、检测失效分析专家陈志荣和可靠性验证专家黄智伟分别以“VESP验证技术能力”、“失效分析面对先进集成电路发展的挑战”、“解析芯片设计公司车规验证测试标准”为主题发表演讲。

  蔚思博检测技术(合肥)有限公司为蔚华集团旗下之半导体电子产品第三方独立验证实验室,立足于两岸芯片验证领域,致力于提供全方位的工程验证与质量检測解决方案。设置全方位芯片检测能力且具备独家的Driver IC可靠性验证与SWAP服务能量。专为集成电路上下游产业链设计打造,提供完整的硬件设计、验证服务、技术咨询与培训服务。

上一条:第六届中国(武义)电动工具设计大赛完美收官
下一条:永乐店邀专家解读十八大精神
与我们联系
  • 联系电话:+86-0512-53660867
  • 传  真:+86-0512-53660867
  • 邮  箱:info@investchn.com
Copyright © 2015-2024 InvestCHN.com All Rights Reserved. 版权所有:投促中国